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TomoScope  x射线复合式三坐标测量中心
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TomoScope  x射线复合式三坐标测量中心
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◆全球首家将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现复杂工件高精度内外尺寸全面测量, Werth能提供7组能量,从130kv到450kv。

◆专利的RO技术,保证全局快速扫描又能对细节部分进行高清重构。

◆测量工件内部尺寸的同时,也可实现材质缺陷分析。

◆ WinWerth Vo|umex射线技术,行业首推的多材料边界测量技术,整个测量过程自动寻边、操作简单、无需丰富的测量经验即可满足较高的重复性与再现性,更好的应用于装配分析。

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